电子级BOE蚀刻液 (Buffered Oxide Etchant)
高纯度、多比例可选,用于半导体及MEMS中SiO₂精密蚀刻

产品描述
BOE(Buffered Oxide Etchant),即缓冲氧化物蚀刻液,是半导体集成电路 (IC)、微机电系统 (MEMS) 和平板显示 (FPD) 等电子制造领域中,用于精确蚀刻二氧化硅 (SiO₂) 薄膜的关键湿法化学品。圣天迈电子科技有限公司专注于提供超净高纯度的电子级BOE蚀刻液,其核心组分为精确配比的氟化物蚀刻成分。氟化物在此体系中起到缓冲作用,稳定溶液pH值,从而实现高度可控、稳定的SiO₂蚀刻速率,并显著降低对光刻胶的侵蚀,保护图形精度。
我们的BOE产品严格控制金属离子(可达ppb甚至ppt级)和颗粒物(符合SEMI G4/G5或更高标准)含量,满足先进制程对化学品纯净度的严苛要求,是提升器件良率和可靠性的重要保障。圣天迈提供多种标准配比,蚀刻速率覆盖范围广,可满足不同应用场景对蚀刻速度和选择性的需求。部分型号可添加特殊表面活性剂,改善润湿性,确保在微小图形和高深宽比结构中获得均匀蚀刻效果。
圣天迈致力于提供高性能、高稳定性的BOE蚀刻解决方案,并可根据客户特定需求提供定制比例和技术支持。欢迎联系我们,获取详细产品规格、报价及样品信息。
主要应用
- 半导体集成电路 (IC) 制造: - 场氧化层 (LOCOS, STI) 开窗 - 栅氧化层 (Gate Oxide) 精确蚀刻 - 层间绝缘介质 (ILD, IMD - TEOS, PSG, BPSG) 图形化及过孔 (Via) 蚀刻 - 钝化层 (Passivation - SiO₂, SiNₓ/SiO₂) 焊盘 (Bond Pad) 开窗
- 微机电系统 (MEMS) 制造: - SiO₂结构层或绝缘层的图形化蚀刻 - SiO₂牺牲层 (Sacrificial Layer) 的选择性去除
- 晶圆处理: - 工艺前去除硅片表面自然氧化层 (Native Oxide) - 去除晶圆边缘或背面的多余氧化层
- 平板显示 (FPD) 制造: - TFT阵列基板中SiO₂栅绝缘层或钝化层的蚀刻
- 光伏/太阳能电池: - 硅片表面处理,如氧化层清洁
- 光学元件制造: - 石英、玻璃等光学材料的表面图形化或精密减薄
产品特点
- 蚀刻速率稳定可控: - 精确配比和温度控制,实现可预测、可重复的蚀刻速率。
- 高蚀刻选择性: - 对SiO₂高效蚀刻,同时对Si和SiNₓ等材料具良好选择比 (具体视配方而定)。
- 优异缓冲性能: - 稳定pH值有效减少对光刻胶的侵蚀,保护图形完整性。
- 超高纯度标准: - 金属离子含量可达ppt级,颗粒物控制严格,满足先进制程要求。
- 良好润湿性 (可选): - 添加表面活性剂的配方改善铺展性,提高微图形蚀刻均匀性。
- 配方灵活多样: - 提供从快速到慢速蚀刻的多种标准及定制配方。
- 高批次一致性: - 严格的质量控制确保不同批次产品性能高度一致。
- 低缺陷产生: - 超洁净化学品有助于减少因蚀刻过程引入的表面缺陷和颗粒污染。
- 圣天迈专业支持: - 提供技术咨询、配方推荐及定制化服务。
规格参数
- 产品名称: 电子级BOE蚀刻液
- 英文名称: Buffered Oxide Etchant (BOE)
- 主要成分: 缓冲氧化物蚀刻液核心组分, 超纯水
- 常见配比: 多种标准比例可选,并可根据客户需求定制
- SiO₂蚀刻速率(@25°C): 具体数值依据配方和工艺条件 (详见技术规格书)
- 对Si选择比 (SiO₂:Si): 依据具体配方,通常较高
- 金属离子含量: 符合SEMI Grade 4/Grade 5或更高标准 (ppb/ppt级)
- 颗粒控制: 符合SEMI Grade 4/Grade 5或更高标准
- 表面活性剂: 可选添加 (Surfactant Added) 或未添加
- 外观: 无色澄清透明液体
- 包装规格: 1L/4L/5L/25L 高纯HDPE/PFA瓶/桶, 200L洁净桶